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SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法.pdf
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my678.cn
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法.pdf
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资料大小: 130.28 KB
上传时间: 2011-01-18
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SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法:
标准号:
SJ 2214.5-1982
实施状态:
已作废
中文名称:
半导体光敏二极管结电容的测试方法
组织分类:
SJ
中标分类:
L54
标准分类:
QT
发布日期:
1982-11-30
实施日期:
1983-07-01
作废日期:
2015-10-01
被替代标准:
SJ/T 2214-2015
归口单位:
无
起草单位:
无
范围:
本标准适用于光敏二极管电容C(1)的测试。
文件格式:
PDF
文件大小:
130.28KB
文件页数:
1
(以上信息更新时间为:2019-05-12)
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