收藏本站
开启辅助访问
切换到窄版
登录
立即注册
只需一步,快速开始
首页
搜索
帖子
用户
麦田学社
›
下载中心
›
技术分享
›
技术资料
›
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法.pdf
版块导航
+
技术分享
·
技术资料
·
数据、文献
·
年鉴
·
报告、手册
热门下载
·
CNAS GL057-2024 标准物质_标准样品选择指南.pdf
·
CNAS GL025-2023 校准和测量能力(CMC)表述指南.pdf
·
SF_T 0175-2024 血液和尿液中238种毒(药)物的液相色谱-质谱检验方法.pdf
·
DB4206_T 93-2025 磷石膏资源综合利用标准体系建设指南.pdf
·
HJ 197-2024 水质 亚硝酸盐氮的测定 气相分子吸收光谱法(发布稿).pdf
·
DB4206_T 94-2025 检验检测机构标准物质与标准溶液 管理规范.pdf
·
DB4104_T 153-2025 养老机构新入住老年人试住期服务规范.pdf
·
DB1310_T 360-2025.png
·
DB3212_T 2104-2025.png
·
DB5305_T 226-2025.png
麦田学社 ©
my678.cn
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法.pdf
打开方式: Adobe Reader
资料大小: 130.28 KB
上传时间: 2011-01-18
下载
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法.pdf
复制链接推荐给好友
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法:
标准号:
SJ 2214.5-1982
实施状态:
已作废
中文名称:
半导体光敏二极管结电容的测试方法
组织分类:
SJ
中标分类:
L54
标准分类:
QT
发布日期:
1982-11-30
实施日期:
1983-07-01
作废日期:
2015-10-01
被替代标准:
SJ/T 2214-2015
归口单位:
无
起草单位:
无
范围:
本标准适用于光敏二极管电容C(1)的测试。
文件格式:
PDF
文件大小:
130.28KB
文件页数:
1
(以上信息更新时间为:2019-05-12)
标准全文下载:
点击下方链接查看更多内容。
下载
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法.pdf