麦田学社»首页 › 技术分享 › 技术资料 › SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法 ...

SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法

6457 |

6 | 2011-1-18 09:05 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：SJ 2214.5-1982
实施状态：已作废
中文名称：半导体光敏二极管结电容的测试方法
组织分类：SJ
中标分类：L54
标准分类：QT
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
作废日期：2015-10-01
被替代标准：SJ/T 2214-2015
归口单位：无
起草单位：无
范围：本标准适用于光敏二极管电容C(1)的测试。
文件格式：PDF
文件大小：130.28KB
文件页数：1
（以上信息更新时间为：2019-05-12）

标准全文下载：

SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法.pdf (130.28 KB)

221451982, 半导体, 光敏, 结电容, 测试

SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法

相关帖子