SJ 3196-1989 电子材料次级电子发射系数的测试方法.pdf

标准号：SJ 3196-1989
实施状态：现行
中文名称：电子材料次级电子发射系数的测试方法
英文名称：Test methods for transmitting coefficient of secondary electron of electronic materials
发布日期：1989-02-10
实施日期：1989-03-01
归口单位：无
起草单位：南京工学院
标准简介：本标准规定了用电子枪法测定电子材料的次级电子发射系数。本标准适用于所有固态电子材料(包括金属、非金属、半导体与绝缘体)。
文件格式：PDF
文件大小：739.27KB
文件页数：5
（以上信息更新时间为：2019-11-15）

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