SJ 3196-1989 电子材料次级电子发射系数的测试方法

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查看6084 | 回复5 | 2019-11-15 10:23 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ 3196-1989
实施状态:现行
中文名称:电子材料次级电子发射系数的测试方法
英文名称:Test methods for transmitting coefficient of secondary electron of electronic materials
发布日期:1989-02-10
实施日期:1989-03-01
归口单位:
起草单位:南京工学院
标准简介:本标准规定了用电子枪法测定电子材料的次级电子发射系数。本标准适用于所有固态电子材料(包括金属、非金属、半导体与绝缘体)。
文件格式:PDF
文件大小:739.27KB
文件页数:5
(以上信息更新时间为:2019-11-15)

标准全文下载(高清全文电子版):
SJ 3196-1989 电子材料次级电子发射系数的测试方法.pdf (739.27 KB)

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