标准号：SJ/T 11631-2016
实施状态：现行
中文名称：太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
英文名称：Test methods for surface defects of silicon wafers for solar cell
发布日期：2016-04-05
实施日期：2016-09-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：中国有色金属工业标准计量质量研究所
标准简介：本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）外观缺陷的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片的沾污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时，需经有关各方协商。
文件格式：PDF
文件大小：4.14MB
文件页数：8
（以上信息更新时间为：2019-03-27）
标准全文下载：
点击下方链接查看更多内容。
SJ_T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法.pdf