SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法

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查看4220 | 回复4 | 2016-4-8 13:44 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ/T 11631-2016
实施状态:现行
中文名称:太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
英文名称:Test methods for surface defects of silicon wafers for solar cell
发布日期:2016-04-05
实施日期:2016-09-01
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位:中国有色金属工业标准计量质量研究所
标准简介:本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)外观缺陷的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片的沾污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时,需经有关各方协商。
文件格式:PDF
文件大小:4.14MB
文件页数:8
(以上信息更新时间为:2019-03-27)

标准全文下载:
SJ_T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法.pdf (4.14 MB)

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