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QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法:

标准号：QJ 2689-1994
实施状态：现行
中文名称：电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
发布日期：1994-06-24
实施日期：1994-12-01
文件格式：PDF
文件大小：232.91KB
文件页数：8
（以上信息更新时间为：2019-05-05）

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