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QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法 ...
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[航天]
QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
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3
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2010-4-25 14:30
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标准号:
QJ 2689-1994
实施状态:
现行
中文名称:
电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
发布日期:
1994-06-24
实施日期:
1994-12-01
文件格式:
PDF
文件大小:
232.91KB
文件页数:
8
(以上信息更新时间为:2019-05-05)
标准全文下载:
QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法.pdf
(232.91 KB)
2010-4-25 14:30 上传
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多余
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射线照相检验
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元器件
,
射线照相
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