收藏本站
开启辅助访问 切换到窄版
麦田学社»首页 › 技术分享 › 技术资料 › QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法 ...

QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法

[复制链接]
查看1030 | 回复3 | 2010-4-25 14:30 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：QJ 2689-1994
实施状态：现行
中文名称：电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
发布日期：1994-06-24
实施日期：1994-12-01
文件格式：PDF
文件大小：232.91KB
文件页数：8
（以上信息更新时间为：2019-05-05）

标准全文下载：
QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法.pdf (232.91 KB)
多余, 射线照相检验, 方法, 检验, 电子, 元器件, 射线照相

相关帖子

网站所有内容均来自于网络，仅供个人学习、交流。

使用道具 举报

返回列表