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QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法

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查看1025 | 回复3 | 2010-4-25 14:30 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：QJ 2689-1994
实施状态：现行
中文名称：电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
发布日期：1994-06-24
实施日期：1994-12-01
文件格式：PDF
文件大小：232.91KB
文件页数：8
（以上信息更新时间为：2019-05-05）

标准全文下载：
QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法.pdf (232.91 KB)
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