SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法.pdf

标准号：SJ 20147.1-1992
实施状态：现行
中文名称：银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法
英文名称：Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness--Method by the X-ray fluorescent spectromentry
发布日期：1992-11-19
实施日期：1993-05-01
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：中国华晶电子集团公司等单位
文件格式：PDF
文件大小：423.32KB
文件页数：10
（以上信息更新时间为：2020-03-13）

标准全文下载：