[电子] SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法

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标准号:SJ 20147.1-1992
实施状态:现行
中文名称:银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法
英文名称:Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness--Method by the X-ray fluorescent spectromentry
发布日期:1992-11-19
实施日期:1993-05-01
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:中国华晶电子集团公司等单位
文件格式:PDF
文件大小:423.32KB
文件页数:10
(以上信息更新时间为:2020-03-13)

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SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法.pdf (423.32 KB)

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