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QJ 1239.3-1987 电子设备环境试验条件和方法 低温试验.pdf

 

QJ 1239.3-1987 电子设备环境试验条件和方法 低温试验:
标准号：QJ 1239.3-1987
实施状态：现行
中文名称：电子设备环境试验条件和方法 低温试验
发布日期：1987-07-02
实施日期：1988-10-01
文件格式：PDF
文件大小：83.12KB
文件页数：3
（以上信息更新时间为：2020-06-04）

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