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[航天] QJ 1239.3-1987 电子设备环境试验条件和方法 低温试验

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查看2709 | 回复5 | 2010-7-22 04:31 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：QJ 1239.3-1987
实施状态：现行
中文名称：电子设备环境试验条件和方法 低温试验
发布日期：1987-07-02
实施日期：1988-10-01
文件格式：PDF
文件大小：83.12KB
文件页数：3
（以上信息更新时间为：2020-06-04）

标准全文下载：
QJ 1239.3-1987 电子设备环境试验条件和方法 低温试验.pdf (83.12 KB)
电子设备, 方法, 低温试验, 环境试验, 环境

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