EN 60749-27-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分_静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)IEC 60749-27-2006.pdf

标准号：EN 60749-27-2006
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)IEC 60749-27-2006
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Incorporates Amendment A1: 2012)
发布日期：2006-08-01
文件格式：PDF
文件大小：610.60KB
文件页数：16
（以上信息更新时间为：2019-11-30）



文档语言及版本参照下方封面截图：