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EN 60749-27-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)IEC 60749-27-2006

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查看3051 | 回复0 | 2010-3-7 23:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：EN 60749-27-2006
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)IEC 60749-27-2006
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Incorporates Amendment A1: 2012)
发布日期：2006-08-01
文件格式：PDF
文件大小：610.60KB
文件页数：16
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 60749-27-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分_静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)IEC 60749-27-2006.pdf (610.6 KB)
器件, 机械, 部分, 灵敏度, 测试

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