标准号:EN 62373-2006
实施状态:现行
中文名称:金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验 IEC 62373:2006
英文名称:Bias-temperature stability test for metal-oxide@ semiconductor@ field-effect transistors (MOSFET)
发布日期:2006-08-01
文件格式:PDF
文件大小:447.62KB
文件页数:16
(以上信息更新时间为:2019-11-30)
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