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EN 62373-2006 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验 IEC 62373:2006

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5 | 2010-4-26 08:45 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：EN 62373-2006
实施状态：现行
中文名称：金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验 IEC 62373:2006
英文名称：Bias-temperature stability test for metal-oxide@ semiconductor@ field-effect transistors (MOSFET)
发布日期：2006-08-01
文件格式：PDF
文件大小：447.62KB
文件页数：16
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 62373-2006 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验 IEC 62373_2006.pdf (447.62 KB)

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EN 62373-2006 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验 IEC 62373:2006

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