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EN 61967-2-2005 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分_辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2_2005.pdf

 

EN 61967-2-2005 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2:2005:
标准号:EN 61967-2-2005
实施状态:现行
中文名称:集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2:2005
英文名称:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions@ 150 kHz to 1 GHz Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method
发布日期:2005
文件格式:PDF
文件大小:520.25KB
文件页数:26
(以上信息更新时间为:2019-11-30)



文档语言及版本参照下方封面截图:
EN 61967-2-2005 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2:2005
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