收藏本站
开启辅助访问 切换到窄版
麦田学社»首页 › 标准分享 › 国外标准 › EN 61967-2-2005 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测 ...

EN 61967-2-2005 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2:2005

[复制链接]
查看3582 | 回复5 | 2019-2-13 22:02 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：EN 61967-2-2005
实施状态：现行
中文名称：集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2:2005
英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions@ 150 kHz to 1 GHz Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method
发布日期：2005
文件格式：PDF
文件大小：520.25KB
文件页数：26
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 61967-2-2005 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分_辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2_2005.pdf (520.25 KB)
集成电路, 辐射, 测量, 部分, 释放

相关帖子

网站所有内容均来自于网络，仅供个人学习、交流。

使用道具 举报

返回列表