标准号:EN 60749-33-2004
实施状态:现行
中文名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器 IEC 60749-33-2004
英文名称:Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 33: Accelerated moisture resistance Unbiased autoclave
发布日期:2004-04-01
文件格式:PDF
文件大小:329.33KB
文件页数:10
(以上信息更新时间为:2019-11-30)
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