麦田学社»首页 › 标准分享 › 国外标准 › EN 60749-33-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第33 ...

EN 60749-33-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器 IEC 60749-33-2004

2603 |

3 | 2010-6-24 23:08 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：EN 60749-33-2004
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器 IEC 60749-33-2004
英文名称：Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 33: Accelerated moisture resistance Unbiased autoclave
发布日期：2004-04-01
文件格式：PDF
文件大小：329.33KB
文件页数：10
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 60749-33-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分_加速抗湿.无偏压热器 IEC 60749-33-2004.pdf (329.33 KB)

器件, 机械, 部分, 加速, 压热器

EN 60749-33-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器 IEC 60749-33-2004

相关帖子