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EN 60749-32-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分_塑料密封器件的易燃性(外部引起的)IEC 60749-32-2002.pdf

 

EN 60749-32-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)IEC 60749-32-2002:
标准号:EN 60749-32-2003
实施状态:现行
中文名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)IEC 60749-32-2002
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) (Incorporates Amendment A1: 2010)
发布日期:2003-06-01
文件格式:PDF
文件大小:535.22KB
文件页数:8
(以上信息更新时间为:2019-11-30)



文档语言及版本参照下方封面截图:
EN 60749-32-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)IEC 60749-32-2002
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