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EN 60749-32-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)IEC 60749-32-2002

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4 | 2010-6-15 05:32 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：EN 60749-32-2003
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)IEC 60749-32-2002
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) (Incorporates Amendment A1: 2010)
发布日期：2003-06-01
文件格式：PDF
文件大小：535.22KB
文件页数：8
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 60749-32-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分_塑料密封器件的易燃性(外部引起的)IEC 60749-32-2002.pdf (535.22 KB)

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EN 60749-32-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)IEC 60749-32-2002

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