标准号:EN 60749-18-2003
实施状态:现行
中文名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量) IEC 60749-18-2002
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 18: Ionizing radiation (total dose)
发布日期:2003-02-01
文件格式:PDF
文件大小:450.62KB
文件页数:18
(以上信息更新时间为:2019-11-30)
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