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EN 60749-18-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量) IEC 60749-18-2002

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查看9122 | 回复6 | 2010-7-31 22:50 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：EN 60749-18-2003
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量) IEC 60749-18-2002
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 18: Ionizing radiation (total dose)
发布日期：2003-02-01
文件格式：PDF
文件大小：450.62KB
文件页数：18
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 60749-18-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分_电离辐射(总剂量) IEC 60749-18-2002.pdf (450.62 KB)
器件, 机械, 部分, 半导体器件, 试验方法

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