本规范适用于直流电压≤4500V，直流电流≤200A的功率半导体器件老化系统（以下简称老化系统）的校准，功率半导体器件老化系统覆盖环境应力、直流功率应力等，常见设备包括：高温反偏老化系统、高低温老化测试系统、大功率（含微波）晶体管老化系统、高温高湿反偏老化系统、大功率晶体管老化系统、电容器高温老化系统等各种常见半导体器件/元件老化系统，其他元器件老化系统可参考进行校准。
标准编号：JJF (电子)0014-2018
中文名称：功率半导体器件老化系统校准规范
英文名称：Calibration Specification for Power Semiconductor Deviees Aging Systems
发布日期：2018-04-30
实施日期：2018-07-01
引用标准：JJF 1101-2003
全文页数：32
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JJF (电子)0014-2018 功率半导体器件老化系统校准规范.pdf