JJF (电子)0014-2018 功率半导体器件老化系统校准规范

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查看3891 | 回复5 | 2021-3-14 17:30 | 显示全部楼层 |阅读模式
本规范适用于直流电压≤4500V,直流电流≤200A的功率半导体器件老化系统(以下简称老化系统)的校准,功率半导体器件老化系统覆盖环境应力、直流功率应力等,常见设备包括:高温反偏老化系统、高低温老化测试系统、大功率(含微波)晶体管老化系统、高温高湿反偏老化系统、大功率晶体管老化系统、电容器高温老化系统等各种常见半导体器件/元件老化系统,其他元器件老化系统可参考进行校准。

标准编号:JJF (电子)0014-2018
中文名称:功率半导体器件老化系统校准规范
英文名称:Calibration Specification for Power Semiconductor Deviees Aging Systems
发布日期:2018-04-30
实施日期:2018-07-01
引用标准:JJF 1101-2003
全文页数:32


标准全文下载:
JJF (电子)0014-2018 功率半导体器件老化系统校准规范.pdf (6.55 MB)

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