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SJ_T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法.pdf

 

SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法:
本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。

标准编号：SJ/T 11766-2020
中文名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
全文页数：8


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文档封面截图如下：
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
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