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SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

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查看2717 | 回复5 | 2021-5-26 10:52 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。

标准编号：SJ/T 11766-2020
中文名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
全文页数：8


标准全文下载：
SJ_T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法.pdf (2.85 MB)
低频, 方法, 噪声, 器件, 光电

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