[电子] SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

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查看1810 | 回复2 | 2021-5-26 10:52:31 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了光电耦合器件(以下简称光耦)1Hz~300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。

标准编号:SJ/T 11766-2020
中文名称:光电耦合器件低频噪声参数测试方法
发布日期:2020-12-09
实施日期:2021-04-01
全文页数:8


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SJ_T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法.pdf (2.85 MB)
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温暖的模样 | 2021-5-31 08:17:59 | 显示全部楼层
挺好的  下载迅速
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1162003669 | 2021-6-1 09:13:45 | 显示全部楼层
感谢分享,很有用
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