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SJ_T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法.pdf

 

SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法:
本标准规定了晶体管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求，适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行。

标准编号：SJ/T 11765-2020
中文名称：晶体管低频噪声参数测试方法
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
全文页数：9


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文档封面截图如下：
SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法
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