[电子] SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

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查看3974 | 回复2 | 2021-5-30 22:25:06 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了晶体管1Hz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求,适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行。

标准编号:SJ/T 11765-2020
中文名称:晶体管低频噪声参数测试方法
发布日期:2020-12-09
实施日期:2021-04-01
全文页数:9


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SJ_T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法.pdf (3.7 MB)
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d_bszxN89s | 2021-6-1 00:08:49 | 显示全部楼层
感谢分享
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a13534052401 | 2021-6-4 03:21:06 | 显示全部楼层

这个好,谢谢
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