JY_T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则.pdf

本标准规定了扫描电子显微镜（scanning electron microscope，以下简称扫描电镜或SEM）的分析方法原理、环境条件指标、仪器、样品、分析测试、结果报告、仪器维护和安全注意事项。
本标准适用于利用各类扫描电镜进行的微观形貌、微区成分和结构分析等。

标准编号：JY/T 0584-2020
中文名称：扫描电子显微镜分析方法通则
英文名称：General rules of analytical methods for scanning electron microscope
发布日期：2020-09-29
实施日期：2020-12-01
代替标准：JY/T 010-1996
引用标准：GB/T 23414-2009 ;GB/T 13298-2015;GB/T 17359-2012;GB/T 19501-2013
提出单位：中华人民共和国教育部
全文页数：15


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