JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则

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查看10427 | 回复8 | 2021-10-21 20:32 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了扫描电子显微镜(scanning electron microscope,以下简称扫描电镜或SEM)的分析方法原理、环境条件指标、仪器、样品、分析测试、结果报告、仪器维护和安全注意事项。
本标准适用于利用各类扫描电镜进行的微观形貌、微区成分和结构分析等。

标准编号:JY/T 0584-2020
中文名称:扫描电子显微镜分析方法通则
英文名称:General rules of analytical methods for scanning electron microscope
发布日期:2020-09-29
实施日期:2020-12-01
代替标准:JY/T 010-1996
引用标准:GB/T 23414-2009 ;GB/T 13298-2015;GB/T 17359-2012;GB/T 19501-2013
提出单位:中华人民共和国教育部
全文页数:15


标准全文下载:
JY_T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则.pdf (1.28 MB)

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