JB_T 10034-2012 光栅角位移测量系统.pdf

标准号：JB/T 10034-2012
实施状态：现行
中文名称：光栅角位移测量系统
英文名称：Grating angular displacement measuring system
组织分类：JB
中标分类：J42
ICS分类：17.040.30
标准分类：QT
发布日期：2012-05-24
实施日期：2012-11-01
代替标准：JB/T 10034-1999
归口单位：全国量具量仪标准化技术委员会
起草单位：四川科奥达技术有限公司
范围：本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″,准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统。
文件格式：PDF
文件大小：715.71KB
文件页数：16
（以上信息更新时间为：2019-04-08）

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