JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统

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查看9062 | 回复2 | 2012-5-21 18:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:JB/T 10034-2012
实施状态:现行
中文名称:光栅角位移测量系统
英文名称:Grating angular displacement measuring system
组织分类:JB
中标分类:J42
ICS分类:17.040.30
标准分类:QT
发布日期:2012-05-24
实施日期:2012-11-01
代替标准:JB/T 10034-1999
归口单位:全国量具量仪标准化技术委员会
起草单位:四川科奥达技术有限公司
范围:本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″,准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统。
文件格式:PDF
文件大小:715.71KB
文件页数:16
(以上信息更新时间为:2019-04-08)

标准全文下载:
JB_T 10034-2012 光栅角位移测量系统.pdf (715.71 KB)

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