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JB_T 7092-2008 银基复层电触头基本性能测量方法.pdf
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my678.cn
JB_T 7092-2008 银基复层电触头基本性能测量方法.pdf
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资料大小: 254.35 KB
上传时间: 2011-01-01
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JB/T 7092-2008 银基复层电触头基本性能测量方法:
标准号:
JB/T 7092-2008
实施状态:
现行
中文名称:
银基复层电触头基本性能测量方法
英文名称:
Method for measuring basic properties of bimetal contacts
组织分类:
JB
中标分类:
K14
ICS分类:
29.120.20
标准分类:
QT
发布日期:
2008-02-01
实施日期:
2008-07-01
代替标准:
JB/T 7092-1993
归口单位:
全国电工合金标准化技术委员会
起草单位:
桂林电器科学研究所
范围:
本标准规定了银基复层电触头工作层和基层的维氏硬度、复层结合强度、工作层形状及厚度、同轴度、球面半径及锥形角度的测量。
本标准适用于以各种方法加工的铆钉型或平片型银基复层电触头。
文件格式:
PDF
文件大小:
254.35KB
文件页数:
10
(以上信息更新时间为:2019-04-16)
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