标准号：JB/T 7092-2008
实施状态：现行
中文名称：银基复层电触头基本性能测量方法
英文名称：Method for measuring basic properties of bimetal contacts
组织分类：JB
中标分类：K14
ICS分类：29.120.20
标准分类：QT
发布日期：2008-02-01
实施日期：2008-07-01
代替标准：JB/T 7092-1993
归口单位：全国电工合金标准化技术委员会
起草单位：桂林电器科学研究所
范围：本标准规定了银基复层电触头工作层和基层的维氏硬度、复层结合强度、工作层形状及厚度、同轴度、球面半径及锥形角度的测量。
本标准适用于以各种方法加工的铆钉型或平片型银基复层电触头。
文件格式：PDF
文件大小：254.35KB
文件页数：10
（以上信息更新时间为：2019-04-16）
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JB_T 7092-2008 银基复层电触头基本性能测量方法.pdf
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