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SJ 20961-2006 集成电路A_D和D_A转换器测试方法的基本原理.pdf
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麦田学社 ©
my678.cn
SJ 20961-2006 集成电路A_D和D_A转换器测试方法的基本原理.pdf
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资料大小: 1.02 MB
上传时间: 2011-04-01
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SJ 20961-2006 集成电路A_D和D_A转换器测试方法的基本原理.pdf
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SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理:
标准号:
SJ 20961-2006
实施状态:
现行
中文名称:
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
英文名称:
General principles of measuring methods of A/D and D/A converters for integrated circuits
组织分类:
SJ
中标分类:
L55
ICS分类:
31.080.01
标准分类:
QT
发布日期:
2006-08-07
实施日期:
2006-12-30
被替代标准:
代替标准:
归口单位:
信息产业部电子第四研究所
起草单位:
中国电子科技集团公司第二十四研究所
范围:
本标准规定了A/D转换器(以下简称ADC)和D/A转换器(以下简称DAC)主要静态、动态特性和转换特性测试方法的基本原理。
文件格式:
PDF
文件大小:
1.02MB
文件页数:
31
(以上信息更新时间为:2019-04-19)
标准全文下载:
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