SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理

[复制链接]
查看10064 | 回复5 | 2011-4-1 05:25 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ 20961-2006
实施状态:现行
中文名称:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
英文名称:General principles of measuring methods of A/D and D/A converters for integrated circuits
组织分类:SJ
中标分类:L55
ICS分类:31.080.01
标准分类:QT
发布日期:2006-08-07
实施日期:2006-12-30
被替代标准:
代替标准:
归口单位:信息产业部电子第四研究所
起草单位:中国电子科技集团公司第二十四研究所
范围:本标准规定了A/D转换器(以下简称ADC)和D/A转换器(以下简称DAC)主要静态、动态特性和转换特性测试方法的基本原理。
文件格式:PDF
文件大小:1.02MB
文件页数:31
(以上信息更新时间为:2019-04-19)

标准全文下载:
SJ 20961-2006 集成电路A_D和D_A转换器测试方法的基本原理.pdf (1.02 MB)

使用道具 举报