标准号：GB/T 30118-2013
实施状态：现行
中文名称：声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法
英文名称：Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods
组织分类：GB
中标分类：L21
ICS分类：31.140
标准分类：CN
发布日期：2013-12-17
实施日期：2014-05-15
采用标准：IEC 62276-2005,MOD
归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
起草单位：中国电子科技集团第二十六研究所
范围：本标准规定了人造石英、铌酸锂(LN)、钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸鎵镧(LGS)等单晶晶片等。本标准适用于人造石英、铌酸锂(LN),钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸鎵镧(LGS)等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。
文件格式：PDF
文件大小：945.96KB
文件页数：32
（以上信息更新时间为：2019-04-05）
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