标准号：GB/T 25186-2010
实施状态：现行
中文名称：表面化学分析 二次离子质谱-由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子
英文名称：Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
组织分类：GB
中标分类：G04
ICS分类：71.040.40
标准分类：CN
发布日期：2010-09-26
实施日期：2011-08-01
采用标准：ISO 18114-2003,IDT
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位：信息产业部专用材料质量监督检验中心
范围：本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。本标准适用于基体化学成分单一的样品,其中注入物质的峰值原子浓度不超过1%。
文件格式：PDF
文件大小：152.61KB
文件页数：7
（以上信息更新时间为：2019-04-11）
标准全文下载：
GB_T 25186-2010 表面化学分析 二次离子质谱-由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子.pdf
(152.61 KB)
|
|
