标准号：GB/T 25184-2010
实施状态：现行
中文名称：X射线光电子能谱仪检定方法
英文名称：Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
组织分类：GB
中标分类：G04
ICS分类：71.040.40
标准分类：CN
发布日期：2010-09-26
实施日期：2011-08-01
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位：福建光电有限公司
范围：本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法;本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定;
文件格式：PDF
文件大小：1.11MB
文件页数：26
（以上信息更新时间为：2019-04-11）
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GB_T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法.pdf
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