标准号：GB/T 22586-2008
实施状态：已作废
中文名称：高温超导薄膜微波表面电阻测试
英文名称：Measurements of surface resistance of high temperature superconductor thin film at microwave frequencies
组织分类：GB
中标分类：H21
ICS分类：77.040.99
标准分类：CN
发布日期：2008-12-15
实施日期：2009-05-01
作废日期：2018-10-01
被替代标准：GB/T 22586-2018
采用标准：IEC 61788-7-2006,IDT
归口单位：全国超导标准化技术委员会
起草单位：电子科技大学
范围：本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法。测试目标是在谐振频率下Rs随温度的变化。
本标准适用于表面电阻的测试范围如下:
—频率: 8GHz<f<30GHz
—测试分辨率: 0.01mΩ(f=10GHz)
测试报告给出在测试频率下的表面电阻值,并且给出利用Rs∝f2 的关系折合到10GHz的值。
文件格式：PDF
文件大小：1002.53KB
文件页数：24
（以上信息更新时间为：2019-04-15）
标准全文下载：
GB_T 22586-2008 高温超导薄膜微波表面电阻测试.pdf
(1002.53 KB)
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