[国家标准] GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法

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标准号:GB/Z 21738-2008
实施状态:现行
中文名称:一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法
英文名称:Fundamental structures of one dimensional nanomaterials. High resolution electron microscopy characterization
组织分类:GB
中标分类:N30
ICS分类:17.180.01
标准分类:CN
发布日期:2008-05-08
实施日期:2008-11-01
被替代标准:
代替标准:
归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会
起草单位:中国科学院物理研究所电子显微镜实验室
范围:本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理,术语和定义,仪器和设备,样品制备,测量程序,结果表示以及试验报告等。
本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构,元素组分,截面及界面原子排布等。

文件格式:PDF
文件大小:343.30KB
文件页数:9
(以上信息更新时间为:2019-04-16)

标准全文下载:
GB_Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法.pdf (343.3 KB)

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