标准号：GB/T 21636-2008
实施状态：现行
中文名称：微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语
英文名称：Microbeam analysis. Electron Probe Micro Analysis (EPMA). Vocabulary
组织分类：GB
中标分类：G04
ICS分类：01.040.71;71.040.99
标准分类：CN
发布日期：2008-04-11
实施日期：2008-10-01
采用标准：ISO 23833-2006,IDT
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位：全国微束分析标准化技术委员会
范围：本标准定义了电子探针显微分析（EPmA）实践中使用的术语,包括一般概念的术语和按技术等级分类的具体概念的术语。本标准适用于所有有关电子探针分析（EPmA）实践的标准化文件,部分使用于相关领域[例如：扫描电子显微镜(SEm),分析电子显微镜(AEm),X射线能谱仪等]的标准化文件,用于定义共用的术语。
文件格式：PDF
文件大小：1.36MB
文件页数：39
（以上信息更新时间为：2019-04-16）
标准全文下载：
GB_T 21636-2008 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语.pdf
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