[国家标准] GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定

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4 | 2011-2-19 09:20 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：GB/T 17473.3-2008
实施状态：现行
中文名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定
英文名称：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics. Determination of sheet resistance
组织分类：GB
中标分类：H68
ICS分类：77.120.99
标准分类：CN
发布日期：2008-03-31
实施日期：2008-09-01
代替标准：GB/T 17473.3-1998
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
起草单位：贵研铂业股份有限公司
范围：本标准规定了微电子技术用贵金属浆料中方阻的测定方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定。
文件格式：PDF
文件大小：194.09KB
文件页数：7
（以上信息更新时间为：2019-04-16）

标准全文下载：

GB_T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定.pdf (194.09 KB)

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