[轻工业] QB/T 1135-2006 首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法

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查看4858 | 回复5 | 2010-11-6 00:35 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:QB/T 1135-2006
实施状态:现行
中文名称:首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
英文名称:Jewellery. Measurement of gold and silver coating tickness. X-ray fluorescence spectrometric methods
组织分类:QB
中标分类:Y88
ICS分类:39.060
标准分类:QT
发布日期:2006-08-19
实施日期:2006-12-01
代替标准:QB/T 1135-1991
归口单位:全国首饰标准化技术委员会
起草单位:国家首饰质量监督检验中心
范围:本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。
本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定(覆盖层与基体为非相同材质)。

文件格式:PDF
文件大小:170.54KB
文件页数:6
(以上信息更新时间为:2019-04-19)

标准全文下载:
QB_T 1135-2006 首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法.pdf (170.54 KB)

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