JB/T 8233-1999 立式接触式干涉仪

9481 |

2 | 2011-4-16 15:11 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：JB/T 8233-1999
实施状态：已作废
中文名称：立式接触式干涉仪
英文名称：Vertical contact interferometers
组织分类：JB
中标分类：N34
ICS分类：17.180.30
标准分类：QT
发布日期：1999-08-06
实施日期：2000-01-01
作废日期：2017-05-12
代替标准：JB/T 8233-1995
归口单位：全国光学和光学仪器标准化技术委员会
起草单位：上海光学仪器研究所
范围：本标准规定了立式接触式干涉仪的基本参数及尺寸、技术要求、试验方法等。本标准适用于比较法测量长度的立式接触式干涉仪。
文件格式：PDF
文件大小：511.92KB
文件页数：11
（以上信息更新时间为：2019-04-30）

标准全文下载：

JB_T 8233-1999 立式接触式干涉仪.pdf (511.92 KB)

接触, 立式, 干涉仪, 干涉

JB/T 8233-1999 立式接触式干涉仪

相关帖子