标准号：GB/T 4377-1996
实施状态：已作废
中文名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
英文名称：Semiconductor integrated circuits. General principles of measuring methods of voltage regulator
组织分类：GB
中标分类：L56
ICS分类：31.200
标准分类：CN
发布日期：1996-07-09
实施日期：1997-01-01
作废日期：2018-08-01
被替代标准：GB/T 4377-2018
代替标准：GB 4377-1984
归口单位：电子工业部标准化研究所
起草单位：北京半导体器件五厂
范围：本标准规定了半导体集成电路电压调整器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试,不适用于双端(单端口)器件。
文件格式：PDF
文件大小：513.60KB
文件页数：20
（以上信息更新时间为：2019-05-03）
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GB_T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理.pdf
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