标准号：GB/T 15653-1995
实施状态：现行
中文名称：金属氧化物半导体气敏元件测试方法
英文名称：Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
组织分类：GB
中标分类：L15
ICS分类：31.020
标准分类：CN
发布日期：1995-07-24
实施日期：1996-04-01
采用标准：
归口单位：电子工业部标准化研究所
起草单位：电子工业部标准化研究所
范围：本标准规定了金属氧化物半导体气敏元件(以下简称元件) 参数测试方法的基本原理,没有规定这些方法在实际使用时的技术细节,测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件性能参数的测试,其他气敏元件亦可参照使用。
文件格式：PDF
文件大小：297.11KB
文件页数：12
（以上信息更新时间为：2019-05-04）
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GB_T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法.pdf
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