HG/T 2538-1993 磁带用聚酯薄膜拉伸性能测定方法

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标准号:HG/T 2538-1993
实施状态:现行
中文名称:磁带用聚酯薄膜拉伸性能测定方法
组织分类:HG
中标分类:G33
ICS分类:83.140.10
标准分类:QT
发布日期:1993-09-06
实施日期:1994-07-01
采用标准:ISO 1184-1983,NEQ
归口单位:化学工业部磁记录材料标准化技术归口单位
起草单位:杭州磁带厂
范围:本标准规定了磁带用聚酯薄膜拉伸性能的树定方法。本标准适用子磁带用聚酯薄膜,也适用于软磁盘等用聚酯薄膜。
文件格式:PDF
文件大小:167.36KB
文件页数:5
(以上信息更新时间为:2019-05-06)

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HG_T 2538-1993 磁带用聚酯薄膜拉伸性能测定方法.pdf (167.36 KB)

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